Analysis of HR-STEM theory for thin specimen
Keywords: Scanning transmission electron microscopy; Contrast transfer function; Bright field imaging; Annular dark field imaging
مقالات ISI (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Evaluation of probe size in STEM imaging at 30 and 60 kV
Keywords: Low-voltage electron microscopy; Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy; Annular dark field imaging; Multislice simulation; Chromatic aberration; Probe size
Experimental study of annular bright field (ABF) imaging using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy (STEM)
Keywords: Annular bright field image; Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy; Annular dark field imaging; Light element; Diffraction imaging;
Nonlinear imaging using annular dark field TEM
Keywords: Miscellaneous methods; Electron diffraction and elastic scattering theory; Image simulation; 61.12.Bt; 68.37.Lp; Thermal diffuse scattering; Nonlinear imaging; Annular dark field imaging;