کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9816898 | 1518376 | 2005 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nonlinear imaging using annular dark field TEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
Annular dark field imagingMiscellaneous methods61.12.Bt - 61.12 بایت68.37.Lp - 68.37 لیترNonlinear imaging - تصویربرداری غیر خطیImage simulation - شبیه سازی تصویرElectron diffraction and elastic scattering theory - پراش الکترونی و نظریه پراکندگی کششیThermal diffuse scattering - پراکندگی پراکنده حرارتی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Nonlinear imaging using annular dark field TEM Nonlinear imaging using annular dark field TEM](/preview/png/9816898.png)
چکیده انگلیسی
Annular dark field TEM images exhibit a dominant mass-thickness contrast that can be quantified to extract single atom scattering cross sections. On top of this incoherent background, additional lattice fringes appear with a nonlinear information limit of 1.2Â Ã
at 150Â kV. The formation of these fringes is described by coherent nonlinear imaging theory and good agreement is found between experimental and simulated images. Calculations furthermore predict that the use of aberration corrected microscopes will improve the image quality dramatically.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 104, Issues 3â4, October 2005, Pages 281-289
Journal: Ultramicroscopy - Volume 104, Issues 3â4, October 2005, Pages 281-289
نویسندگان
S. Bals, R. Kilaas, C. Kisielowski,