![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Si(1 1 1)-H(1 Ã 1): A mirror for atoms characterized by AFM, STM, He and H2 diffraction
Keywords: تعامل اتم جامد، پراکندگی، پراش; Atom-solid interactions, scattering, diffraction; Atomic force microscopy; Scanning tunneling microscopy; Atom-solid interactions; Silicon;