![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Investigation on the origin of preferred a-axis orientation of BaSi2 films deposited on Si(100) by thermal evaporation
Keywords: سیلیسید باریم; Semiconducting silicide; Barium silicide; Crystal orientation; Vacuum evaporation; Transmission electron microscopy;