Keywords: پراش الکترونی پرتو متقاطع; 2D; Two-Dimensional; 2DEG; Two-Dimensional Electron Gas; 2DPS; Two-Dimensionally-Periodic Slab; 3D; Three-Dimensional; AES; Auger Electron Spectroscopy; AFM; Atomic Force Microscopy; ARUPS; Angle-Resolved Ultraviolet Photoemission Spectroscopy; B3LYP; Bec
مقالات ISI پراش الکترونی پرتو متقاطع (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: پراش الکترونی پرتو متقاطع; Quantitative three-dimensional characterization; Ferroelectric domains; Polarization; Artificial neural networks; Convergent-beam electron diffraction; Multiple scattering;
Retrieving depth-direction information from TEM diffraction data under reciprocal-space sampling variation
Keywords: پراش الکترونی پرتو متقاطع; Convergent-beam electron diffraction; Dynamical electron scattering; Artificial neural networks; Inverse problems; Three-dimensional characterization;
A convergent-beam electron diffraction study of strain homogeneity in severely strained aluminum processed by equal-channel angular pressing
Keywords: پراش الکترونی پرتو متقاطع; Convergent-beam electron diffraction; Equal-channel angular pressing; Long-range internal stresses; Severe plastic deformation; Strain inhomogeneity;
Composition analysis of semiconductor quantum wells by energy filtered convergent-beam electron diffraction
Keywords: پراش الکترونی پرتو متقاطع; 68.55.Nq; 6114.Lj; 61.82.Fk; 68.55.âa; Transmission electron microscopy; Convergent-beam electron diffraction; Semiconductor quantum wells; Composition analysis;
Diffracted phase and amplitude measurements by energy-filtered convergent-beam holography (CHEF)
Keywords: پراش الکترونی پرتو متقاطع; 87.64.Dz; 61.14.Nm; 61.14.LjElectron holography; Convergent-beam electron diffraction; Aberration correction