Quantum defect asymptotics at the critical charge: A study of the integrality conjecture
Keywords: اتهام انتقادی; Quantum defect; Critical charge; Integrality conjecture;
مقالات ISI اتهام انتقادی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Impact of dynamic voltage scaling and thermal factors on SRAM reliability
Keywords: اتهام انتقادی; SRAM; Critical charge; Supply voltage; Critical charge profile; Dynamic voltage scaling; Semi-dynamic method; Soft error; Dependent critical charge curve;
Low-leakage soft error tolerant dual-port SRAM cells for cache memory applications
Keywords: اتهام انتقادی; Memory cell; Particle strike; Critical charge; Soft error rate; Leakage current; Read static-noise-margin; Read delay; Process variation
New configuration memory cells for FPGA in nano-scaled CMOS technology
Keywords: اتهام انتقادی; Configuration memory cell; Particle strike; Critical charge; Soft error rate; Leakage current; Cell area;