دانلود مقالات ISI درباره طراحی برای تست پذیری + ترجمه فارسی
Design For Testability
طراحی برای تست پذیری
در این صفحه تعداد 24 مقاله تخصصی درباره طراحی برای تست پذیری که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید. در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طراحی برای تست پذیری (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند. در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: طراحی برای تست پذیری; CUT(Circuit Under Test); Design for Testability; Scan cell; Test data; Switching activity; VLSI(Very Large Scale Integration);
Keywords: طراحی برای تست پذیری; Design for testability; Sequential fault diagnosis; Discrete binary particle swarm optimization (DPSO); AO⁎; Information heuristic
Keywords: طراحی برای تست پذیری; Testability; Accessibility; PCB assembly production test; Near field probes; Magnetic sensors; Giant magnetoresistance; In-circuit test; Design for Testability; Contactless testing; High density PCBA testing;
Keywords: طراحی برای تست پذیری; Design for testability; Scan test; Multiple scan chains; Test cost reduction; Test application time; Test data reduction; Test power reduction; Embedded cores
Keywords: طراحی برای تست پذیری; Analog system testing; Design for testability; Genetic algorithms; Mixed analog–digital integrated circuits; Self-testing; Sigma–delta modulation