![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Experimental Modeling of the Impulse Diffraction System with a “White” SR Beam
Keywords: پراش; CCD; CMOS: synchrotron radiation; shock wave; diffraction; dispersionless spectrometer; impulse diffractometry;