Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Positron annihilation; Positron sources; Positron stopping; Emission of positrons; Doppler broadening spectroscopy; 44Ti; Ion implantation; Spallation targets; Irradiation effects in solids; MCNPX;
مقالات ISI طیف سنجی گسترش داپلر (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Doppler broadening spectroscopy; Helium irradiation; Tungsten;
Morphology correlated free volume studies of multi-walled carbon nanotube plasticized poly (vinyl chloride) nanocomposites: Positronium probes and electrical properties
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Positron annihilation spectroscopy; Doppler broadening spectroscopy; Plasticized polyvinyl chloride; Multi walled carbon nanotubes; Free-volume;
Positron annihilation spectroscopy and photoluminescence investigation of LaOF:Tb3+ nanophosphor fabricated via ultrasound assisted sonochemical route
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Positron annihilation spectroscopy; Doppler broadening spectroscopy; Sonochemical method; Photoluminescence; Light emitting diodes;
ESR, thermoelectrical and positron annihilation Doppler broadening studies of CuZnFe2O4-BaTiO3 composite
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Ferrite; Composite; Barium titanate; ESR; IR spectroscopy; Doppler broadening spectroscopy; Thermoelectric power;
Detector resolution in positron annihilation Doppler broadening experiments
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; High-purity germanium detector; Energy resolution; Doppler broadening spectroscopy; Positron annihilation spectroscopy;
High energy (MeV) ion fluence dependent nano scale free volume defects studies of PMMA films
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Polymethylmethacrylate; Ion beam modification; Positron annihilation lifetime spectroscopy; Doppler broadening spectroscopy; X-ray diffraction; UV-visible; FTIR;
Novel data evaluation algorithm for Coincident Doppler Broadening Spectroscopy
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Defect characterization; Doppler Broadening Spectroscopy; Data evaluation
Deep defect density imaging
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; Positron Annihilation Spectroscopy; Doppler broadening spectroscopy; Defect imaging;
Useful vacancies: Positron beam interrogation of fluorine-vacancy complexes in semiconductor device structures
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; 61.72.Ji; 61.72.Tt; 61.72.Yx; 66.30.Jt; 78.70.Bj; Doppler broadening spectroscopy; Vacancy complexes; Fluorine; Silicon;
Porosity depth profiling of spin-coated silica thin films produced by different precursors sols
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; 61.43.Gt; 78.70.Bj; 78.30.âj; 36.10.Dr; Doppler broadening spectroscopy; FT-IR spectra; Positron annihilation spectroscopy; Silica;
Innovative dielectrics for semiconductor technology
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; High κ dielectrics; HfO2; Buried cavities; Low κ dielectrics; Positron annihilation spectroscopies; Doppler broadening spectroscopy; Doppler broadening spectroscopy in coincidence; Slow positrons
Defect imaging of structural objects using positron annihilation spectroscopy
Keywords: طیف سنجی گسترش داپلر; 78.70.Bj; 61.72.Ji; 61.72.Hh; Positrons; Positron annihilation; Doppler broadening spectroscopy;