![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions
Keywords: شبیه سازی الکتروترمال; Active cycling; Ageing effects; Electrothermal simulation; Short circuit test; Power MOSFETs; Unclamped inductive switching;