Keywords: روش پدیده نفوذی تجربی; Atomic pseudopotentials; Passivation; Empirical pseudopotential method; Semiconductor nanostructures; Semiconductor surfaces; Semiconductor optoelectronics;
مقالات ISI روش پدیده نفوذی تجربی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Discontinuous Galerkin deterministic solvers for a Boltzmann-Poisson model of hot electron transport by averaged empirical pseudopotential band structures
Keywords: روش پدیده نفوذی تجربی; Deterministic numerical methods; Discontinuous Galerkin schemes; Boltzmann-Poisson systems; Empirical pseudopotential method; Statistical hot electron transport; Semiconductor nano scale devices;
Four-component superlattice empirical pseudopotential method for InAs/GaSb superlattices
Keywords: روش پدیده نفوذی تجربی; InAs/GaSb; Superlattice; Empirical pseudopotential method; LWIR
Effect of pressure on the energy band gaps of wurtzite GaN and AlN and electronic properties of their ternary alloys AlxGa1−xN
Keywords: روش پدیده نفوذی تجربی; Empirical Pseudopotential Method; Electronic properties; Wurtzite structure; Hydrostatic pressure
Electronic and structural properties of ZnxCd1âxSySe1ây alloys lattice matched to GaAs and InP: An EPM study
Keywords: روش پدیده نفوذی تجربی; II-VI Quaternary alloys; Electronic band structure; Empirical pseudopotential method;
Empirical pseudopotential band structure parameters of 4H-SiC using a genetic algorithm fitting routine
Keywords: روش پدیده نفوذی تجربی; Silicon carbide; Empirical pseudopotential method; Genetic algorithm
The effect of uniaxial stress on band structure and electron mobility of silicon
Keywords: روش پدیده نفوذی تجربی; 71.15.Dx; 71.70.Fk; 72.20.FrBand structure; Empirical pseudopotential method; Uniaxial strain/stress; Monte Carlo method; Low-field mobility