Keywords: نقص رابط; Composite insulator; Interface defect; Infrared image; Temperature; Heating section;
مقالات ISI نقص رابط (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Performance of organic field effect transistors with high-k gate oxide after application of consecutive bias stress
Keywords: نقص رابط; Organic field effect transistor; Electrical stress; High-k material; Interface defect; Bulk defect
Observation of a paramagnetic defect at the epitaxial Ge3N4/(111)Ge interface by electron spin resonance
Keywords: نقص رابط; Germanium/insulator structure; Epitaxial growth; Interface defect; Electron spin resonance; Germanium nitride;
A new application of digital image processing to investigate thin compressed films: The measurement of buckling propagation
Keywords: نقص رابط; Thin film; Digital image processing; Nanoscale; Interface defect; DICM; Propagation of buckling
Paramagnetic Ge dangling bond type defects at (1 0 0)Si1−xGex/SiO2 interfaces (Invited Paper)
Keywords: نقص رابط; 73.40.Qv; 76.30.−v; 76.30.Mi; 73.20.HbGe/insulator structure; Interface defect; Electron spin resonance; Condensation growth