![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
First results in micromapping the sensitivity to SEE of an electronic device in a SOI technology at the LNL IEEM
Keywords: میکروسکوپ الکترونی خروجی یونی; Monolithic Pixel Sensors; Single Event Upset; Ion Electron Emission Microscopy