![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Study on reverse-biased gate leakage current mechanisms in Al2O3/InAlAs metal-oxide-semiconductor structures
Keywords: سازه های نیمه هادی فلزات; Metal-oxide-semiconductor structures; Leakage current; Conduction mechanisms;