![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: نزدیکی لبه اشعه ایکس جذب ساختار خوب (NEXAFS); X-ray absorption fine structure (XAFS); X-ray absorption near edge structure (XANES); Near edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS); Partial electron yield (PEY); Inelastic electron yield (IEY); Nondestructive depth profiling;