![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
In situ X-ray diffraction study of crystallization process of GeSbTe thin films during heat treatment
Keywords: تغییر فاز; 81.30.Hd; 68.55.âa; Phase-change; Crystallization; Amorphous; Synchrotron radiation; X-ray diffraction; GeSbTe thin film;