![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Matrix effect-free depth profiling of multilayered Si/Ti with laser-SNMS
Keywords: یونیزاسیون چند فتونی افزایش رزونانس; SIMS; Post-ionization; Laser ionization; Sputtered neutral; Resonance-enhanced multiphoton ionization; XPS