Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Calibrating measure; Monolayer steps; Layered crystals; Scanning probe microscopy (SPM); Atomic force microscopy (AFM); Scanning tunneling microscopy (STM); Bi2Se3 and ZnWO4;
مقالات ISI میکروسکوپ پروب اسکن (SPM) (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM); Scanning probe microscopy (SPM); CMOS; Polycrystalline silicon (poly-Si); Blocked implant
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Photovoltaic; Surface potential; Photoinduced current; Solar cell; Scanning probe microscopy (SPM);
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Dopant imaging; Scanning Probe Microscopy (SPM); Power semiconductor devices; Silicon carbide
Defect-dipole defined nanoscale ferroelectric polar-orders induced in Barium Zirconate
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Ferroelectric materials; Thin films; Vacancies; Scanning probe microscopy (SPM);
An instrumental approach to combining confocal microspectroscopy and 3D scanning probe nanotomography
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Optical microspectroscopy; Scanning probe microscopy (SPM); Ultramicrotomy (UMT); Scanning probe nanotomography (SPNT); Fluorescent magnetic microspheres; Optical-probe nanoscopy;
Mechanical properties and applications of custom-built gold AFM cantilevers
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Cantilevers; scanning probe microscopy (SPM); Atomic force microscopy (AFM); Tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS); Current-sensing AFM (CSAFM); Kelvin-Probe force microscopy (KPFM); Finite element method simulations (FEM simulations);
Improving the Design of the Shield for the Electric Field in SiC-Based Schottky-Rectifiers and Ion-Implantation Cascades by SPM Dopant-Imaging
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Dopant imaging; Schottky-interface; Wide-band gap; JBS-rectifier; Scanning probe microscopy (SPM); High-energy implantation
Differential ion beam sputtering of segregated phases in aluminum casting alloys
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Secondary ion mass spectrometry (SIMS); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Scanning probe microscopy (SPM); Interface; Oxide-film growth kinetics; 3-Dimensional mapping;
Micro/nano-wear studies on epoxy/silica nanocomposites
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); A. Nano composites; B. Wear; B. Mechanical properties; Scanning probe microscopy (SPM);
The effects of surface roughness and nanostructure on the properties of indium tin oxide (ITO) designated for novel optoelectronic devices fabrication
Keywords: میکروسکوپ پروب اسکن (SPM); Scanning probe microscopy (SPM); Atomic force microscopy (AFM); Q quality factor; Surface roughness