![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Elastically strained GeSiSn layers and GeSiSn islands in multilayered periodical structures
Keywords: میکروسکوپ تونل اسکن; GeSiSn; Nanoislands; Epitaxy; Diffraction; Scanning tunnel microscopy; X-ray diffractometry, Photoluminescence; Band diagram;