Keywords: پروفیل عمق سیمس; SIMS depth profiling; MRI model; Deconvolution; Nonstationary effects; SiGe multilayers; Grazing-incidence x-ray reflectometry;
مقالات ISI پروفیل عمق سیمس (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
An O2+ probe energy study for boron quantification in Si1âxGex (0 â¤Â x â¤Â 1) using secondary ion mass spectrometry
Keywords: پروفیل عمق سیمس; SIMS depth profiling; 11B implantation; Si1âxGex; SIMS quantification;
Multi-stage zircon and monazite growth revealed by depth profiling and in situ U–Pb geochronology: Resolving the Paleoproterozoic tectonics of the Trans-Hudson Orogen on southeastern Baffin Island, Canada
Keywords: پروفیل عمق سیمس; Monazite; Zircon; U–Pb geochronology; Trans-Hudson Orogen; SIMS depth profiling; LA-ICP-MS
Oxygen surface exchange and diffusion studies of La2Mo2O9 in different exchange atmospheres
Keywords: پروفیل عمق سیمس; La2Mo2O9; Oxygen diffusion; Isotopic exchange; SIMS depth profiling; Water vapor; Ionic conductivity
Effect of annealing on the properties of N-doped ZnO films deposited by RF magnetron sputtering
Keywords: پروفیل عمق سیمس; ZnO thin films; SIMS depth profiling; XPS analysis; PL spectra;