Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; Design for testability (DFT); Scan-based test; Test data compression; Test response compaction; Linear finite state machines; Error diagnosis, test-per-clock;
مقالات ISI تست فشرده سازی اطلاعات (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; VLSI testing; Test data compression; Huffman coding; FDR coding; Design for testability; Low-power testing
Asymmetry dual-LFSR reseeding for low power BIST
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; Dual LFSR; Test data compression; Low power testing;
Two-stage low power test data compression for digital VLSI circuits
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; Test data compression; X-filling; Huffman coding; Test application time; Scan testing; Decompression architecture; Run length coding;
Test data compression using interval broadcast scan for embedded cores
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; Test data compression; Embedded cores; Multiple scan chains
Test data compression using alternating variable run-length code
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; Scan testing; Alternating variable run-length code; System-on-a-chip test; Test data compression
A scheme of test data compression based on coding of even bits marking and selective output inversion
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; System-on-a-chip (SoC); Test data compression; Stimulus compression; Test; Test vector
Improved Data Compression Scheme for Multi-Scan Designs
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; test data compression; multi-scan design; test data volume;
Test data compression scheme based on variable-to-fixed-plus-variable-length coding
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; Test data compression; Coding; Fixed-length coding; Variable-length coding
HIERARCHICAL SELF TEST FOR SOCS INCLUDING LOGIC AND INTERCONNECTS
Keywords: تست فشرده سازی اطلاعات; Test Data Compression; Hierarchical Systems Methodology