Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; Laser sintering; Nano particle deposition system; Controlled kinetic Monte Carlo; Thin film analysis; Porosity; Gaussian process regression;
مقالات ISI تجزیه و تحلیل فیلم نازک (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
LEIS analysis of the W surface during water vapor adsorption
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; Water adsorption; Ion beam analysis; Low energy ion scattering; Thin film analysis;
Characterization of thin SiGe layers on Si (001) by spectroscopic ellipsometry for Ge fractions from 0 to 100%
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; Surfactant-mediated epitaxy; Silicon germanium; Spectroscopic ellipsometry; Thin film analysis;
Local thickness and composition analysis of TEM lamellae in the FIB
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; FIB; TEM sample preparation; Thin film analysis;
Analysis of Mo/Si multilayers by means of RBS
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; RBS; High resolution; Thin film analysis
Glow discharge optical emission spectroscopy for accurate and well resolved analysis of coatings and thin films
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; Glow discharge optical emission spectroscopy; GDOES; Thin films and coatings; MAX phase; Thick coatings; Thin film analysis; Elemental depth profiles
Optical analysis of coatings by variable angle spectrophotometry
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; Coatings; Optical spectroscopy; Optical constants; Thin film analysis
Low-energy heavy-ion TOF-ERDA setup for quantitative depth profiling of thin films
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; 34.50.–s; 82.80.Rt; 61.72.Ss; 68.55.NqElastic recoil detection; Time-of-flight; Thin film analysis; Depth profiling
Elastic electron scattering at high momentum transfer: A possible new analytic tool
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; Elastic scattering; Thin film analysis; Lattice vibrations;
Electron inelastic mean free path in solids as determined by electron Rutherford back-scattering
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; Elastic scattering; Thin film analysis; Inelastic mean free path;
Ion bombardment induced interface broadening in Co/Cu system as a function of layer thickness
Keywords: تجزیه و تحلیل فیلم نازک; AES depth profiling; Thin film analysis; Co/Cu system; Ion bombardment induced interface broadening; TRIM simulation;