طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS)

در این صفحه تعداد 18 مقاله تخصصی درباره طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS) که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS) (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS); dry powder inhaler (DPI); force control agent (FCA); blending method; dispersibility; next generation impactor (NGI); single particle aerosol mass spectrometry (SPAMS); time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS); AFM; atomic force microscop
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS); Field emission electric propulsion (FEEP); Solid-state ion source; Pulsed laser deposition; RbAg4I5 solid electrolyte; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS)
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS); Electron-gas secondary neutral mass spectrometry (SNMS); Mixing-roughness-information depth model (MRI); Reference samples; Si1–xGex structures; Sputter depth profiling; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS)
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS); Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS); Intermediate temperature solid oxide fuel cells (IT-SOFC); Cathodes; Perovskite; Oxygen diffusion; Surface exchange;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS); Soil; Heavy metal; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS); Field emission scanning electron microscopy (FE-SEM); Energy-dispersive X-ray spectrometer (EDS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرمی ثانویه ثانویه (TOF-SIMS); Imaging techniques; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS); Scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray analysis (SEM-EDX); Fourier transform infrared microscopy (FTIR microscopy); Cultural heritage; African art