![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Optical characterization by variable angle spectroscopic ellipsometry of nitrogen-doped MgxZn1 â xO thin films prepared by the plasma-assisted reactive evaporation method
Keywords: گلدان; ZnO single crystal; MgZnO film; VASE; Herzinger-Johs model; Extinction coefficient; Refractive index; Absorption coefficient; Plasma-assisted reactive evaporation method;