کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10566901 | 972363 | 2012 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroscopic ellipsometry characterization of vacuum-deposited organic films for the application in organic solar cells
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Spectroscopic ellipsometry characterization of vacuum-deposited organic films for the application in organic solar cells Spectroscopic ellipsometry characterization of vacuum-deposited organic films for the application in organic solar cells](/preview/png/10566901.png)
چکیده انگلیسی
⺠Variable angle spectroscopic ellipsometry is applied to the absorber material DCV6T. ⺠Use of interference enhanced substrates ensures uniqueness of the results. ⺠DCV6T exhibits high anisotropy with preferred lying orientation of the molecules. ⺠Anisotropy in the neat DCV6T layer is enhanced by post-annealing. ⺠Anisotropy is also present in mixed layers DCV6T:C60 but decreases with annealing.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 13, Issue 5, May 2012, Pages 885-893
Journal: Organic Electronics - Volume 13, Issue 5, May 2012, Pages 885-893
نویسندگان
D. Wynands, M. Erber, R. Rentenberger, M. Levichkova, K. Walzer, K.-J. Eichhorn, M. Stamm,