![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Experimental technique for the performance evaluation and optimization of 1/f noise spectrum investigation in electron devices
Keywords: ولش; 1/f noise; Flicker noise; Electron device; MOSFET; Non-parametric methods; Power spectrum; PSD; Welch; Bartlett; Periodogram;