کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5006888 | 1461489 | 2017 | 24 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Experimental technique for the performance evaluation and optimization of 1/f noise spectrum investigation in electron devices
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
کنترل و سیستم های مهندسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The technique has been applied to the case-study of a power MOSFET, by considering Bartlett, Welch and circular Welch estimators and different time windows and data record segmentation strategies, in order to verify its capabilities and, in particular, to identify the optimal non-parametric estimation of 1/f noise spectrum. In addition, results obtained by means of conventional statistical inference are compared to the estimates provided by the technique proposed, to the aim of further experimental assessment.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 98, February 2017, Pages 421-428
Journal: Measurement - Volume 98, February 2017, Pages 421-428
نویسندگان
Paolo Magnone, Pier Andrea Traverso, Claudio Fiegna,