![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Growth kinetics and stoichiometry of ZnS films obtained by close-spaced vacuum sublimation technique
Keywords: ZnS films; Rutherford backscattering spectrometry; Deposition rate; Stoichiometry