| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 10128672 | 1645141 | 2018 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Microstructural evolution and electrical resistivity of nanocrystalline W thin films grown by sputtering
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی مواد
													دانش مواد (عمومی)
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												
												ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Characterization - Volume 145, November 2018, Pages 473-478
											Journal: Materials Characterization - Volume 145, November 2018, Pages 473-478
نویسندگان
												Yong Jin Kim, Sung-Gyu Kang, Yeonju Oh, Gyu Won Kim, In Ho Cha, Heung Nam Han, Young Keun Kim,