کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10142444 | 1646099 | 2018 | 14 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Advanced detector signal acquisition and electron beam scanning for high resolution SEM imaging
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 195, December 2018, Pages 93-100
Journal: Ultramicroscopy - Volume 195, December 2018, Pages 93-100
نویسندگان
William C. Lenthe, Jean Charles Stinville, McLean P. Echlin, Zhe Chen, Samantha Daly, Tresa M. Pollock,