کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10239158 | 46032 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Oxygen isotopic exchange: A useful tool for characterizing oxygen conducting oxides
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
کاتالیزور
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Oxygen isotopic exchange: A useful tool for characterizing oxygen conducting oxides Oxygen isotopic exchange: A useful tool for characterizing oxygen conducting oxides](/preview/png/10239158.png)
چکیده انگلیسی
The 18O/16O isotope exchange depth profile technique (IEDP) followed by SIMS characterizations was applied to dense membranes of pure ionic conductors and mixed ionic/electronic conducting materials. It is a very useful tool since we obtain in both cases data concerning the oxygen diffusion in the bulk and the oxygen exchange at the surface of the materials. Comparisons were done, including results concerning the role of the surface with regards to the oxygen reduction reaction. Detailed experimental and analytical processes are given.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Catalysis A: General - Volume 289, Issue 1, 2 August 2005, Pages 84-89
Journal: Applied Catalysis A: General - Volume 289, Issue 1, 2 August 2005, Pages 84-89
نویسندگان
J.-M. Bassat, M. Petitjean, J. Fouletier, C. Lalanne, G. Caboche, F. Mauvy, J.-C. Grenier, Groupement de Recherches CNRS “IT-SOFC 700” Groupement de Recherches CNRS “IT-SOFC 700”,