کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10364228 | 871562 | 2005 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Testing high resolution ΣΠADC's by using the quantizer input as test access
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A new solution to improve the testability of high resolution ΣΠAnalogue to Digital Converters (ΣΠADC's) using the quantizer input as test node is described. The theoretical basis for the technique is discussed and results from high level simulations for a 16 bit, fourth order, audio ADC are presented. The analysis demonstrates the potential to reduce the computational effort associated with test response analysis versus conventional techniques. If only SNR, THD and gain of the ΣΠADC are evaluated with the new proposed method the test time is already reduced by 20%.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 9, September 2005, Pages 810-819
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 9, September 2005, Pages 810-819
نویسندگان
Daniela De Venuto,