کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10364874 871855 2013 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of pulse quenching effect on soft error vulnerabilities in combinational circuits based on standard cells
ترجمه فارسی عنوان
اثر تأخیر پالس در آسیب پذیری خطای نرم در مدارهای ترکیبی بر اساس سلول های استاندارد
کلمات کلیدی
جمع آوری شارژ چند گره، اثر خشونت پالس، طرح،
ترجمه چکیده
در این مطالعه، اثر تأخیر پالس خنک کننده بر آسیب پذیری خطای نرم در مدارهای ترکیبی مورد بررسی قرار گرفت. نتایج شبیه سازی نشان می دهد که آسیب پذیری های خطای نرم افزاری می تواند 4-16٪ برای مدارهای معیار زمانی که اثر خشخاش پالس معرفی شده است کاهش یابد. با تنظیم جهت گیری سلول های خنک کننده در طرح، آسیب پذیری خطای نرم افزاری می تواند بیشتر کاهش یابد. پیشنهاد شده است که الگوریتم قرار دادن جدید با توجه به قابلیت اطمینان مدار باید طراحی شده تا آسیب پذیری خطای نرم مدار را کاهش دهد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
اثر تأخیر پالس در آسیب پذیری خطای نرم در مدارهای ترکیبی بر اساس سلول های استاندارد
چکیده انگلیسی
In this study, we investigated the impact of pulse quenching effect on the soft error vulnerabilities in combinational circuits. Simulation results illustrate that soft error vulnerabilities could be reduced by 4-16% for the benchmark circuits when the pulse quenching effect is introduced. By adjusting the cell orientations of the quenching cells in the layout, the soft error vulnerabilities could be further reduced. It is suggested that new placement algorithm considering circuit reliability should be designed to reduce the circuit soft error vulnerabilities.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 44, Issue 2, February 2013, Pages 65-71
نویسندگان
, , ,