کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10365159 | 871947 | 2005 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Test of a switched-capacitor ADC by a built-in charge sensor
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A test methodology for switched capacitor circuits is described. The test approach uses a built-in sensor to analyze the charge transfer inside the circuit under test (CUT). The test methodology is applied to a 10-bit algorithmic analog to digital converter to obtain the static linearity and to the simulated fault coverage figures taking into account a catastrophic fault model. The goodness of the charge sensor has been experimentally evaluated with an SC integrator for fault detection and built-in sensor influence on the CUT performance.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 12, December 2005, Pages 1064-1072
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 12, December 2005, Pages 1064-1072
نویسندگان
R. Mozuelos, Y. Lechuga, M. MartÃnez, S. Bracho,