کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10365168 | 871952 | 2005 | 19 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Approximate process-parameter-dependent study of the logarithmic domain lossy integrator harmonic distortion levels
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This paper estimates approximately and sheds light in an insightful way upon the impact of the basic bipolar process parameters upon harmonic distortion for the log-domain lossy integrator case. A step-by-step, symbolic, transistor-level distortion calculation is elaborated. The determination of the harmonic distortion levels present at the integrator's output is based upon the exploitation on the medium complexity Charge-Control-Model (CCM) for the Bipolar Junction Transistor (BJT). Results correlating the input signal strength with the impact of basic BJT non-idealities (e.g. finite beta values, parasitic base and emitter resistances) upon the output linearity levels are provided.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 1, January 2005, Pages 5-23
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 1, January 2005, Pages 5-23
نویسندگان
E.M. Drakakis,