کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10365684 | 872161 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Influence of the surface roughness of the bottom electrode on the resistive-switching characteristics of Al/Al2O3/Al and Al/Al2O3/W structures fabricated on glass at 300 °C
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Influence of the surface roughness of the bottom electrode on the resistive-switching characteristics of Al/Al2O3/Al and Al/Al2O3/W structures fabricated on glass at 300 °C Influence of the surface roughness of the bottom electrode on the resistive-switching characteristics of Al/Al2O3/Al and Al/Al2O3/W structures fabricated on glass at 300 °C](/preview/png/10365684.png)
چکیده انگلیسی
The resistive switching characteristics of MIM structures based on Al2O3, are highly dependent on the surface roughness of the bottom electrode, the thickness of Al2O3 and the current compliance which limits the electron density flowing through both top/bottom electrodes. These devices are based on Al2O3 and fabricated on glass at 300 °C.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issue 12, December 2014, Pages 2747-2753
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issue 12, December 2014, Pages 2747-2753
نویسندگان
Joel Molina, Rene Valderrama, Carlos Zuniga, Pedro Rosales, Wilfrido Calleja, Alfonso Torres, Javier DeLa Hidalga, Edmundo Gutierrez,