کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10481609 933137 2011 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of electromigration on copper atoms in carbon nanotube channels
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه ریاضیات فیزیک ریاضی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Effects of electromigration on copper atoms in carbon nanotube channels
چکیده انگلیسی
► Structure of copper changes along a CNT junction. ► The maximum density of a copper mass occurs at a bias voltage of 6 V. ► The bias voltage reduces the effect of the junction on the velocity of copper.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica A: Statistical Mechanics and its Applications - Volume 390, Issue 5, 1 March 2011, Pages 963-971
نویسندگان
, ,