کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10481609 | 933137 | 2011 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of electromigration on copper atoms in carbon nanotube channels
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
ریاضیات
فیزیک ریاضی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Structure of copper changes along a CNT junction. ⺠The maximum density of a copper mass occurs at a bias voltage of 6 V. ⺠The bias voltage reduces the effect of the junction on the velocity of copper.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica A: Statistical Mechanics and its Applications - Volume 390, Issue 5, 1 March 2011, Pages 963-971
Journal: Physica A: Statistical Mechanics and its Applications - Volume 390, Issue 5, 1 March 2011, Pages 963-971
نویسندگان
M.C.G. Lim, Z.W. Zhong,