کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10634134 | 993413 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reversible orientation-biased grain growth in thin metal films induced by a focused ion beam
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Ion bombardment leads to grain growth in thin metal films. This phenomenon is usually attributed to thermal spikes during ion-crystal interaction, which enhances grain-boundary mobility, but does not bias the migration process. In this work we show instead that local ion channeling with a focused ion beam can reversibly bias grain-boundary motion.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 53, Issue 11, December 2005, Pages 1291-1296
Journal: Scripta Materialia - Volume 53, Issue 11, December 2005, Pages 1291-1296
نویسندگان
R. Spolenak, L. Sauter, C. Eberl,