کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10634337 | 993454 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Molecular dynamics simulation of strain relaxation in Cu thin films on Ni(0Â 0Â 1)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Atomistic details of an interfacial structure of Cu thin films on a Ni(0Â 0Â 1) substrate are investigated by molecular dynamics simulation using embedded atom method potentials. Results confirm the formation of stripes on the film surface with embedded {1Â 1Â 1} wedges, as reported by Müller et al., Phys Rev Lett 1996;76:2358, but suggest a different critical thickness (up to 11Â Ã
) for appearance of the stripes.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 52, Issue 11, June 2005, Pages 1105-1109
Journal: Scripta Materialia - Volume 52, Issue 11, June 2005, Pages 1105-1109
نویسندگان
Seong Jin Kim, Min Hyung Cho, Jang Hyuk Yoon, Ho Jang,