کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672530 1009916 2011 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Intrinsic dissipation in atomic force microscopy cantilevers
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Intrinsic dissipation in atomic force microscopy cantilevers
چکیده انگلیسی
► Introduce new dissipation term for AFM in high vacuum. ► Able to reproduce resonant peaks for different fluid environments. ► No need to fit parameters for each resonance. ► New term has mesoscopic origin in the angular motion between layers in cantilever.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1014-1017
نویسندگان
,