کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672530 | 1009916 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Intrinsic dissipation in atomic force microscopy cantilevers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Introduce new dissipation term for AFM in high vacuum. ⺠Able to reproduce resonant peaks for different fluid environments. ⺠No need to fit parameters for each resonance. ⺠New term has mesoscopic origin in the angular motion between layers in cantilever.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1014-1017
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1014-1017
نویسندگان
Fredy Zypman,