کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672531 | 1009916 | 2011 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging with low-voltage scanning transmission electron microscopy: A quantitative analysis
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Imaging with low-voltage scanning transmission electron microscopy: A quantitative analysis Imaging with low-voltage scanning transmission electron microscopy: A quantitative analysis](/preview/png/10672531.png)
چکیده انگلیسی
⺠Quantitative analysis of the composition by low-voltage STEM annular dark field. ⺠First evidence of channelling effects in low-voltage STEM in SEM. ⺠Comparison between low-voltage and high-voltage STEM. ⺠Evaluation of the absorption effects on the STEM intensity.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1018-1028
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1018-1028
نویسندگان
L. Felisari, V. Grillo, F. Jabeen, S. Rubini, C. Menozzi, F. Rossi, F. Martelli,