| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 10672531 | 1009916 | 2011 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Imaging with low-voltage scanning transmission electron microscopy: A quantitative analysis
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی مواد
													فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												چکیده انگلیسی
												⺠Quantitative analysis of the composition by low-voltage STEM annular dark field. ⺠First evidence of channelling effects in low-voltage STEM in SEM. ⺠Comparison between low-voltage and high-voltage STEM. ⺠Evaluation of the absorption effects on the STEM intensity.
											ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1018-1028
											Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1018-1028
نویسندگان
												L. Felisari, V. Grillo, F. Jabeen, S. Rubini, C. Menozzi, F. Rossi, F. Martelli,