کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672531 1009916 2011 11 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging with low-voltage scanning transmission electron microscopy: A quantitative analysis
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Imaging with low-voltage scanning transmission electron microscopy: A quantitative analysis
چکیده انگلیسی
► Quantitative analysis of the composition by low-voltage STEM annular dark field. ► First evidence of channelling effects in low-voltage STEM in SEM. ► Comparison between low-voltage and high-voltage STEM. ► Evaluation of the absorption effects on the STEM intensity.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1018-1028
نویسندگان
, , , , , , ,