کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672559 | 1009916 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Transmission electron microscopy at 20Â kV for imaging and spectroscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠A highly stable low voltage (20 kV) instrument equipped has been demonstrated. ⺠Single-layer graphene shows a lattice transfer of 213 pm with tilted illumination. ⺠C60 molecules withstand an about two orders of magnitude higher electron dose than at 80 kV. ⺠Dielectric properties and narrow band gaps have been determined on the example of Si and Ge.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1239-1246
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1239-1246
نویسندگان
U. Kaiser, J. Biskupek, J.C. Meyer, J. Leschner, L. Lechner, H. Rose, M. Stöger-Pollach, A.N. Khlobystov, P. Hartel, H. Müller, M. Haider, S. Eyhusen, G. Benner,