کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672559 1009916 2011 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Transmission electron microscopy at 20 kV for imaging and spectroscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Transmission electron microscopy at 20 kV for imaging and spectroscopy
چکیده انگلیسی
► A highly stable low voltage (20 kV) instrument equipped has been demonstrated. ► Single-layer graphene shows a lattice transfer of 213 pm with tilted illumination. ► C60 molecules withstand an about two orders of magnitude higher electron dose than at 80 kV. ► Dielectric properties and narrow band gaps have been determined on the example of Si and Ge.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1239-1246
نویسندگان
, , , , , , , , , , , , ,