کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672562 1009916 2011 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Exploring different inelastic projection mechanisms for electron tomography
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Exploring different inelastic projection mechanisms for electron tomography
چکیده انگلیسی
► Different inelastic imaging methods are compared for electron tomography. ► Thickness map and plasmon map tomography reconstruct the morphology well.► A roadmap towards the selection of a specific TEM technique for tomography is presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1262-1267
نویسندگان
, , , , ,