کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672562 | 1009916 | 2011 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Exploring different inelastic projection mechanisms for electron tomography
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Different inelastic imaging methods are compared for electron tomography. ⺠Thickness map and plasmon map tomography reconstruct the morphology well.⺠A roadmap towards the selection of a specific TEM technique for tomography is presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1262-1267
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1262-1267
نویسندگان
B. Goris, S. Bals, W. Van den Broek, J. Verbeeck, G. Van Tendeloo,