کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672572 1009916 2011 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A method to determine the local surface profile from reconstructed exit waves
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
A method to determine the local surface profile from reconstructed exit waves
چکیده انگلیسی
► Local surface profile can be obtained from experimental exit waves. ► At large defocus exit waves from neighboring columns interfere. ► This makes a local interpretation more difficult. ► A useful rule of thumb for the maximal defocus is derived.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1352-1359
نویسندگان
, , , ,