کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672572 | 1009916 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A method to determine the local surface profile from reconstructed exit waves
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Local surface profile can be obtained from experimental exit waves. ⺠At large defocus exit waves from neighboring columns interfere. ⺠This makes a local interpretation more difficult. ⺠A useful rule of thumb for the maximal defocus is derived.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1352-1359
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1352-1359
نویسندگان
A. Wang, F.R. Chen, S. Van Aert, D. Van Dyck,