کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672578 | 1009916 | 2011 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optimizing the driving scheme of a self-actuated atomic force microscope probe for high-speed applications
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Driving schemes of a dynamic AFM are examined to achieve the highest scan speed. ⺠Q-control provides the highest scan speed with increased transient forces. ⺠Off-resonance tapping is preferable unless transient forces can be ignored. ⺠False error signal generation methods provide a slight improvement.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1388-1394
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1388-1394
نویسندگان
M. Balantekin, F.L. DeÄertekin,