کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672578 1009916 2011 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optimizing the driving scheme of a self-actuated atomic force microscope probe for high-speed applications
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Optimizing the driving scheme of a self-actuated atomic force microscope probe for high-speed applications
چکیده انگلیسی
► Driving schemes of a dynamic AFM are examined to achieve the highest scan speed. ► Q-control provides the highest scan speed with increased transient forces. ► Off-resonance tapping is preferable unless transient forces can be ignored. ► False error signal generation methods provide a slight improvement.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1388-1394
نویسندگان
, ,