کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672584 1009916 2011 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Image blur and energy broadening effects in XPEEM
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Image blur and energy broadening effects in XPEEM
چکیده انگلیسی
► Image blur affects XPEEM imaging at high photon flux densities. ► Energy broadening effects are observed in energy-filtered XPEEM spectromicroscopy. ► Lateral and energy resolution degradation result from Boersch and Loeffler effects. ► Electron-electron interactions are strongest in the initial part of the optical path.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1447-1454
نویسندگان
, , , ,