کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672584 | 1009916 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Image blur and energy broadening effects in XPEEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Image blur affects XPEEM imaging at high photon flux densities. ⺠Energy broadening effects are observed in energy-filtered XPEEM spectromicroscopy. ⺠Lateral and energy resolution degradation result from Boersch and Loeffler effects. ⺠Electron-electron interactions are strongest in the initial part of the optical path.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1447-1454
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1447-1454
نویسندگان
Andrea Locatelli, Tevfik Onur MenteÅ, Miguel Ángel Niño, Ernst Bauer,