کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672610 | 1009932 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectroscopic imaging of electron energy loss spectra using ab initio data and function field visualization
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We have devised a technique for spectral imaging using accurate ab initio electron energy loss near edge structure (ELNES) data and function field visualization. The technique is initially applied to a planar defect model in Si with different ring structures and no broken bonds where experimental probes are severely limited. The same model with B doping is also considered. It is shown that specific deviations in different energy ranges of the ELNES spectra are correlated with different structural components of the models.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 12, November 2009, Pages 1472-1478
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 12, November 2009, Pages 1472-1478
نویسندگان
P. Rulis, A.R. Lupini, S.J. Pennycook, W.Y. Ching,