کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672753 | 1010001 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Prospects for aberration-free electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Future aberration-corrected electron microscopes that will enable sub-Ã
ngstroem spatial and sub-eV energy resolution are outlined . The sub-Ã
ngstroem transmission electron microscope (SATEM) only compensates for the spherical aberration and reduces the chromatic aberration disc by means of a monochromator. In order to correct for both aberrations, two novel correctors, the ultracorrector and the superaplanator are proposed which will yield a resolution limit of about 0.5Â Ã
and a large field of view of more than 4Ã106 image points. The superaplanator is best suited for obtaining an achromatic aplanat required for the realization of the high-performance in situ electron microscope of the TEAM project.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 103, Issue 1, April 2005, Pages 1-6
Journal: Ultramicroscopy - Volume 103, Issue 1, April 2005, Pages 1-6
نویسندگان
H. Rose,