کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672779 | 1010017 | 2005 | 19 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Maximum likelihood estimation of structure parameters from high resolution electron microscopy images. Part II: A practical example
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
61.16.B42.30.W43.50.+y - 43.50+ YTools - ابزارهاElectron microscope design and characterization - طراحی و مشخصه میکروسکوپ الکترونیHigh resolution transmission electron microscopy (HRTEM) - میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا (HRTEM)Image processing - پردازش تصویرData processing - پردازش رایانهای داده، پردازش داده
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This paper is the second part of a two-part paper on maximum likelihood (ML) estimation of structure parameters from electron microscopy images. In order to show the practical applicability of the theoretical methods described in the first part of this two-part paper, an experimental study of an aluminium crystal is presented. In this study, structure parameters, atom column distances in particular, are estimated from high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) images using the ML method. The necessary steps to be made in the application of this method will be worked out one by one, including model assessment, the computation of the ML parameter estimates, and the construction of confidence intervals for these parameter estimates.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 104, Issue 2, September 2005, Pages 107-125
Journal: Ultramicroscopy - Volume 104, Issue 2, September 2005, Pages 107-125
نویسندگان
S. Van Aert, A.J. den Dekker, A. van den Bos, D. Van Dyck, J.H. Chen,