کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
11016473 1777112 2018 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Exploitation of Laser Voltage techniques for identification and complete characterization of a scan chain transition fail issue using the second harmonic approach
ترجمه فارسی عنوان
بهره برداری از تکنیک های ولتاژ لیزر برای شناسایی و تکمیل کامل یک پروسه انتقال زنجیره اسکن با استفاده از رویکرد دوم هارمونیک
کلمات کلیدی
تصویربرداری ولتاژ لیزری، آزمایش ولتاژ لیزری، انزوا گسل، تجزیه و تحلیل شکست دوقطبی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
In this work we specially focused on the application of the two fault isolation techniques, to first, identify the failing flip-flop through dichotomy approach, investigating the macro failure mode through a second harmonic LVI analysis and finally characterizing this failure using LVP.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88–90, September 2018, Pages 267-272
نویسندگان
, , ,