کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
11016473 | 1777112 | 2018 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Exploitation of Laser Voltage techniques for identification and complete characterization of a scan chain transition fail issue using the second harmonic approach
ترجمه فارسی عنوان
بهره برداری از تکنیک های ولتاژ لیزر برای شناسایی و تکمیل کامل یک پروسه انتقال زنجیره اسکن با استفاده از رویکرد دوم هارمونیک
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
تصویربرداری ولتاژ لیزری، آزمایش ولتاژ لیزری، انزوا گسل، تجزیه و تحلیل شکست دوقطبی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
In this work we specially focused on the application of the two fault isolation techniques, to first, identify the failing flip-flop through dichotomy approach, investigating the macro failure mode through a second harmonic LVI analysis and finally characterizing this failure using LVP.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88â90, September 2018, Pages 267-272
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88â90, September 2018, Pages 267-272
نویسندگان
Emanuele Villa, Audrey Garnier, Antoine Reverdy,